标题(TITLE) | 半导体测试设备,功率半导体可靠性实验设备,宽禁带SIC/GaN测试,雪崩浪涌测试,半导体实验室系统建设-陕西博微电通科技有限责任公司 |
关键词(KEYWORDS) | 1、半导体分立器件测试: 静态参数测试:针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件以及光耦、可控硅、集成电路及IC进行高精度参数测试(导通、关断、击穿、漏电、增益等)直流参数测试,分辨率16位ADC/精度0.1%; 动态双脉冲测试:(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA等测试。 2、功率半导体可靠性测试: 环境老化测试:反偏栅偏HTRB/HTGB/ |
描述(DESCRIPTION) | 陕西博微电通科技有限责任公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子检测设备、半导体实验室系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。 |